中科院光電技術(shù)研究所光束控制重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室任戈課題組在相位差技術(shù)研究上取得新進(jìn)展：首次提出了疊層空間調(diào)制相位差技術(shù)，通過對(duì)成像系統(tǒng)的光瞳平面進(jìn)行小孔疊層掃描獲得含有相位差異的圖像，然后利用算法從中提取出成像系統(tǒng)的像差并復(fù)原圖像。該技術(shù)在波前測(cè)量和圖像復(fù)原等方面有很大潛在應(yīng)用價(jià)值。相關(guān)結(jié)果發(fā)表于近期的IEEE Photonics Technology Letters。
　　相位差技術(shù)集波前測(cè)量和圖像復(fù)原于一體，對(duì)目標(biāo)沒有特定的要求，不僅適用于點(diǎn)目標(biāo)，而且適用于擴(kuò)展目標(biāo)，并且具有光路簡(jiǎn)單、不存在非共路誤差等優(yōu)點(diǎn)，已成為國際上的研究熱點(diǎn)。傳統(tǒng)的相位差技術(shù)利用焦面和離焦面產(chǎn)生差異圖像，要求CCD采樣頻率必須滿足奈斯奎特采樣定律。對(duì)于欠采樣系統(tǒng)，像素重疊現(xiàn)象將導(dǎo)致子圖像的許多高頻成分被誤采樣為低頻成分，從而極大影響相位差技術(shù)的測(cè)量精度。
　　該研究首次提出疊層空間調(diào)制相位差的概念，將相位差法推廣至欠采樣系統(tǒng)。利用小孔光闌對(duì)大口徑光瞳面進(jìn)行空間限制，使采集的子圖像滿足采樣定律。小孔在掃描過程中相互交疊，交疊部分提供相同相位信息，非交疊部分提供相位差異。這樣由小孔疊層掃描得到的一組子圖像都是過采樣的，在算法探測(cè)過程中不會(huì)出現(xiàn)錯(cuò)誤的頻率信息，從而極大提高了相位差法對(duì)欠采樣系統(tǒng)的測(cè)量精度。
　　該工作得到了國家自然科學(xué)基金委的資助。

疊層空間調(diào)制相位差原理圖

像差探測(cè)和圖像復(fù)原結(jié)果